반반사 반사율 (TiO₂-NR/Si 경사 굴절률 시스템)

TiO₂ 나노로드 / p-Si 시스템과 bare Si의 각도 분해 광학 반사율 비교 (paper_063). 400–1200 nm 광대역에서 Xe 아크 램프 + 단색화 장치 (Mmac-200)와 자체 제작한 각도 의존성 회전 스테이지를 사용하여 측정됨 (see Andoshe et al., J. Mater. Chem. A (2016), Fig. 3a–e).

모든 값은 Andoshe et al., J. Mater. Chem. A (2016), Fig. 3a–e 참조. 약 36 퍼센트포인트의 감소는 graded-refractive-index-antireflection에 의해 구현된다. 해당 값은 Pt 증착 전후 모두에 적용된다 (Pt 증착 후 색상 변화 없음). 이러한 광학적 회복이 비구조화 평면 Si 웨이퍼에서 Jsc 40 mA cm⁻²를 가능하게 하는 핵심 요인이다 — photoelectrochemical-current-density 참조. paper_063.