DIW NR/NW 복합체의 선형 편광도

직접 잉크 작성(DIW) CdSe-CdS-NR-luminescent NR + NiMoO₄-xH2O-NW-birefringent NW 복합 필름의 UV 여기 하 선형 편광도(DOP).

값

• DOP > 80% (≥ 0.80) — 논문의 보충 표 2 비교에서 정렬된 반도체 NR/NW에 대해 보고된 값 중 최고 수준에 해당함 (see Lv et al., Nat. Commun. (2024), Supplementary Fig. 6b).
• 측정 조건: DIW 인쇄 속도 200 mm/min, 400 kPa, 노즐 직경 0.10 mm; 인쇄 레이어 4층; 상온.
• NW 부재 대조군: NW 없이는 DOP가 급격히 감소하며, 이는 NW 템플릿 역할을 확인해 줌 (NR의 종횡비만으로는 전단력 정렬에 불충분함).

비고

• 논문의 보충 표 2에서 문헌값과 벤치마킹됨; 현재 위키 내에서 직접적인 상충 후보는 없음 (유사한 DIW 인쇄 나노로드 시스템에 대한 선행 DOP 데이터 없음).

관계

NiMoO₄-xH2O-NW-birefringent를 템플릿으로, CdSe-CdS-NR-luminescent를 발광체로 사용하여 shear-force-NW-NR-alignment-DIW (NW 템플릿 정렬)에 의해 구현됨; full-polarized-LED-device의 성능 특성에 해당함.